Product Demonstration
符合標(biāo)準(zhǔn):
AEC-Q100，MIL-STD-883D、MIL-M-38510、GJB548、GJB597等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。
適用范圍:
適用于各種封裝數(shù)字、模擬、數(shù)模混合電路進(jìn)行高溫動態(tài)老化試驗(yàn)。
技術(shù)特點(diǎn):
一板一區(qū)，可滿足多種不同試驗(yàn)參數(shù)的器件同時老化。
完善的、種類齊全的老化器件數(shù)據(jù)庫可供用戶調(diào)用。
64路回檢信號，可設(shè)置回檢通道信號出錯依據(jù)，并判斷該通道信號是否正常。
